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[교내 자율 이용] 투과전자현미경
[교내 자율 이용] 투과전자현미경
기기 설명
장비명(약어) Transmission Electron Microscope (TEM-3)
모델명 JEM-2010
브랜드 JEOL
위치 신소재공학관 B2 230호
담당자 박미경 qkralrud@hanyang.ac.kr
담당자 전화번호 02-2220-1779
기기상태 예약가능
인쇄하기목록으로

원리와 특징
전자빔을 이용하여 금속(박막전지에서의 collector), 무기물질(박막전지에서의 고상 전해질), 고분자(박막전지에서의 기판, 전해질)의 미세구조와 결정구조를 화상으로 분석할 수 있다. 박막전지에서의 계면 결함구조, 결정의 크기. 결정의 구조 등을 분석하는데 쓰인다

사양

- Electron source : LaB6

- Resolution : 2 A

- Nano Prove : 5 nm

- Accelerating voltage : 100 ~ 200 kv

- Magnification : x200 to x1M

시료준비방법

별도 문의

사용료

항목

단위

단가

TEM

30분

40,000

                                                                                   *VAT별도, 교내 50%할인