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[교내 자율 이용] 전계방출 주사전자현미경
[교내 자율 이용] 전계방출 주사전자현미경
기기 설명
장비명(약어) Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
모델명 NOVA NANO SEM 450
브랜드 FEI
위치 FTC 205호
담당자 김수현 suhyunkim@hanyang.ac.kr
담당자 전화번호 02-2220-1711
기기상태 예약가능
인쇄하기목록으로

원리와 특징
주사전자현미경은 의학 및 바이오 분야 뿐만 아니라,재료의 개발, 금속재료, 세라믹 반도체 재료등의 다양한 분야에 이용된다. SEM은 전자를 이용한 현미경으로 금속, 무기물질, 고분자의 표면과 단면구조를 분석하는 장비로써 표면구조의 3차원적 image 를 제공한다. 또한 연료전지 전극의 온도에 따른 상형성 여부등을 분석하는데 사용된다. 조직을 간단한 시편 제작으로 쉽게 관찰 할수 있고, 재료의 정보를 간단하게 알려준다.

사용료
20,000원/시료, 60,000원/30분당 EDS:40,000원/시료