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X-선 형광 분석기

기기 설명
장비명(약어)	wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometer (WD-XRF)
모델명	ZSX PrimusIV
브랜드	Rigaku
위치	신소재공학관 119호
담당자	김태호 salond@hanyang.ac.kr
담당자 전화번호	02-2220-2778
기기상태	예약가능

2차 X-Ray를 이용하여 ppm부터 100%까지 넓은 정량 분석 범위를 가지고 있으며, B ~ U 까지의 전 원소를 짧은 시간에 분석할 수 있는 장점이 있다. 고체와 분말, 액체 등의 다양한 시료의 원소 정량분석,비 파괴분석 등에 이용된다

1. General

1) Elemental coverge : 4Be through 92U

2) Optics : Wavelength dispersive, sequential, tube above

2. X-ray generator

1) X-ray tube : End Window, Rh-anode, 3kW or 4kW, 60kV

2) HV power supply : High frequency inverter, ultra-high stability

3) Cooling : Internal water-to-water heat exchanger

3. Spectrometer

1) Sample changer : 48 positions standard, 96 optional

2) Sample inlet : APC automatic pressure controller

3) Maximum sample size : 51 mm (diameter) by 30 mm (high)

4) Sample rotation speed : 30 rpm

5) Primary X-ray filters : Al25, Al125, Ni40 and Ni400

6) Beam collimators : 6 auto-selectable diameters ( 35, 30, 20, 10, 1 and 0.5 )mm

7) Divergence slit : 3auto-selectable [standard, high, and coarse(optional) resolutions

8) Receiving slit : For SC and for F-PC detectors

9) Goniometer : θ – 2θ independent drive mechanism

10) Angular range : SC: 5-118° , F-PC: 13-148°

11) Continuous scan : 0.1-240°/min

12) Crystal changer : 7crystals, automatic mechanism

4. Detector syster

1) Heavy element detector : Scintillation Counter (SC)

2) Light element detector : Flow Proportional Counter (F-PC)

3) Attenuator : In-out automatic exchanger (1/10)

홈페이지 책임자 : 강영종

홈페이지 관리자 : 유연택

홈페이지 담당자 : 강호준

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