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구면수차보정 주사투과전자현미경
구면수차보정 주사투과전자현미경
기기 설명
장비명(약어) Transmission Electron Microscope (TEM-1)
모델명 NEO ARM
브랜드 JEOL
위치 신소재공학관 B2 230호
담당자 박미경 qkralrud@hanyang.ac.kr
담당자 전화번호 02-2220-1779
기기상태 예약가능
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원리와 특징


투과전자현미경은 금속, 세라믹, 연성 재료 및 의료분야 등 다양한 연구분야에서 높은 분해능으로 인해 각광 받고있다. 특히 냉음극 전계 방사형 전자총에 최근 개발된 고 수차 보정기가 탑재되어Sub-Å 분해능 구현이 가능해졌고, 원자 레벨에서의 영상, 결정구조, 화학조성 그리고 전자 결합 상태 등을 분석할 수 있다.

사양

1. Electron gun : Cold FEG

2. Accelerating Voltage : 30, 80, 200 kV

3. Resolution : TEM Point : 0.23 nm, TEM Lattice : 0.10 nm, STEM Point : 0.078 nm (BF, DF)

4. Magnification : TEM MAG : x2,000 ~ x2,000,000, STEM MAG : x20,000 ~ x150,000,000

5. Tilt Angle : ±35°/±30°

6. Cs-STEM(HAADF, LAADF, ABF, BF), Dual SDD(200mm2) EDS system, 3D Tomography, Oneview CMOS camera

시료준비방법
별도 문의

사용료

항목

단위

단가

TEM/STEM

시간

500,000

EDS

시료

80,000

                                                        *VAT별도, 교내 50%할인

분석결과표현