°øÁö»çÇ×

Ȩ  >  ±â±â»ç¿ë½Åû  >  °øÁö»çÇ×
view
AFM ºÐ¼®½Ç º¯°æ ¾È³»
ÀÛ¼ºÀÚ : ÃÖÁö¿ø(jieun03@hanyang.ac.kr)   ÀÛ¼ºÀÏ : 16.11.22   Á¶È¸¼ö : 677  
÷ºÎÆÄÀÏ



AFM ºÐ¼®½ÇÀÌ FTC 205-2È£·Î º¯°æµÇ¾ú½À´Ï´Ù.

 

Àåºñ ¿¹¾à ¹× ÀÌ¿ë¿¡ Âø¿À¾øÀ¸½Ã±â ¹Ù¶ø´Ï´Ù.

 

°¨»çÇÕ´Ï´Ù.

 

 

 

 

 

 

ÀÌÀü±Û ÇѾç´ëÇб³ °øµ¿±â±â¿ø Analysis of thin films by FT-IR ¼¼¹Ì³ª ¾È³»
´ÙÀ½±Û FIB ¼ö¸® ¾È³»
¸ñ·Ï ¼öÁ¤ ±Û¾²±â »èÁ¦ ´ä±Û