(¸¶°¨)ÇѾç´ëÇб³ °øµ¿±â±â¿ø LINC»ç¾÷Àåºñ( XRF) ¼¼¹Ì³ª¾È³» | |
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ÀÛ¼ºÀÚ : ±è¿ìÁß(kwjike@hanyang.ac.kr) ÀÛ¼ºÀÏ : 17.01.10 Á¶È¸¼ö : 778 | |
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Àåºñ¼¼¹Ì³ª(XRF)¾È³»Àå.pdf XRF¼¼¹Ì³ª Âü°¡½Åû¼.hwp |
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1. ÀÏ ½Ã: 2017³â 1¿ù 24ÀÏ(È) 13:00~17:00 2. Àå ¼Ò: ÇѾç´ëÇб³ Ç»ÀüÅ×Å©¼¾ÅÍ 402È£ (½Ç½À: ½Å¼ÒÀç°øÇаü 1Ãþ 119È£) 3. Àå ºñ: XRF(ZSX Primus¥³) 4. ÀÏÁ¤Ç¥: ¾È³»Àå Âü°í 5. ½Åû ¹æ¹ý : 2017³â 1¿ù 20ÀÏ(±Ý) 17½Ã±îÁö ½Åû¼ À̸ÞÀÏ Á¦Ãâ ¡Ø Âü°¡½Åû¼ ¡æ kwjike@hanyang.ac.kr (´ã´çÀÚ:±è¿ìÁß, 02-2220-1349) ¡Ø ±³À°ºñ¹«·á (¼±Âø¼ø ¸¶°¨, È®Á¤ ±³À°´ë»óÀÚ À̸ÞÀÏ·Î ¾È³»ÇÒ ¿¹Á¤) 6. Âü°¡ Àοø : 30¸í (¼±Âø¼ø¸¶°¨) |
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ÀÌÀü±Û | TEM2000(Åõ°úÀüÀÚÇö¹Ì°æ-1) Æó±â ¾È³» |
´ÙÀ½±Û | ÇѾç´ëÇб³ °øµ¿±â±â¿ø Analysis of thin films by FT-IR ¼¼¹Ì³ª ¾È³» |
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