°øÁö»çÇ×

Ȩ  >  ±â±â»ç¿ë½Åû  >  °øÁö»çÇ×
view
(¸¶°¨)ÇѾç´ëÇб³ °øµ¿±â±â¿ø LINC»ç¾÷Àåºñ( XRF) ¼¼¹Ì³ª¾È³»
ÀÛ¼ºÀÚ : ±è¿ìÁß(kwjike@hanyang.ac.kr)   ÀÛ¼ºÀÏ : 17.01.10   Á¶È¸¼ö : 778  
÷ºÎÆÄÀÏ Àåºñ¼¼¹Ì³ª(XRF)¾È³»Àå.pdf
XRF¼¼¹Ì³ª Âü°¡½Åû¼­.hwp


              LINC»ç¾÷À¸·Î ±¸ÃàµÈ ½Å±ÔÀåºñ XRF Àåºñ¼¼¹Ì³ª¸¦ ¾Æ·¡¿Í °°ÀÌ °³ÃÖÇÏ°íÀÚ ÇÕ´Ï´Ù.

              À̹ø ¼¼¹Ì³ª´Â Àåºñ ±âÃÊ¿Í È°¿ë¿¡ ´ëÇÑ °­ÀÇ°¡ ¼Ò°³µÉ ¿¹Á¤ÀÌ´Ï, ¸¹Àº °ü½É ºÎŹµå¸³´Ï´Ù.

             1. ÀÏ ½Ã: 2017³â 1¿ù 24ÀÏ(È­) 13:00~17:00

             2. Àå ¼Ò: ÇѾç´ëÇб³ Ç»ÀüÅ×Å©¼¾ÅÍ 402È£ (½Ç½À: ½Å¼ÒÀç°øÇаü 1Ãþ 119È£)

             3. Àå ºñ: XRF(ZSX Primus¥³)

             4. ÀÏÁ¤Ç¥: ¾È³»Àå Âü°í

             5. ½Åû ¹æ¹ý : 2017³â 1¿ù 20ÀÏ(±Ý) 17½Ã±îÁö ½Åû¼­ À̸ÞÀÏ Á¦Ãâ

            ¡Ø Âü°¡½Åû¼­ ¡æ kwjike@hanyang.ac.kr (´ã´çÀÚ:±è¿ìÁß, 02-2220-1349)

            ¡Ø ±³À°ºñ¹«·á (¼±Âø¼ø ¸¶°¨, È®Á¤ ±³À°´ë»óÀÚ À̸ÞÀÏ·Î ¾È³»ÇÒ ¿¹Á¤)

             6. Âü°¡ Àοø : 30¸í (¼±Âø¼ø¸¶°¨)

ÀÌÀü±Û TEM2000(Åõ°úÀüÀÚÇö¹Ì°æ-1) Æó±â ¾È³»
´ÙÀ½±Û ÇѾç´ëÇб³ °øµ¿±â±â¿ø Analysis of thin films by FT-IR ¼¼¹Ì³ª ¾È³»
¸ñ·Ï ¼öÁ¤ ±Û¾²±â »èÁ¦ ´ä±Û