한양대학교 서울공동기기원

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투과전자현미경(TEM) / 집속이온빔(FIB) 변경사항 및 분석예약 안내

작성자 : 조예원() 작성일 : 20.04.16 조회수 : 334

첨부파일

TEM Center구축 관련하여 투과전자현미경(TEM), 집속이온빔(FIB)장비의 변경사항을 안내해 드리오니 이용에 착오 없으시기 바랍니다.

1. TEM 명칭변경 및 구분

* FTC에 위치했던 JEM-2100F예약 시 투과전자현미경(TEM)-2로 예약하셔야합니다.

2. 장소변경

모든 투과전자현미경(TEM), 집속이온빔(FIB)은 FTC,신소재공학관 1층에서

신소재공학관 지하 2층 230호 TEMcenter로 변경되었습니다.

3. 분석예약 일정

장비명

분석시작일

분석시간

JEM-2100F

(TEM-2)

2020년 4월 20일 부터

09:00 ~ 21:00

FIB

2020년 4월 20일 부터

09:00 ~ 17:00

* 12:00 ~ 13:00 / 17:00 ~ 18:00 분석불가

* 2020.05.31. 까지 분석일정입니다. (2020.06.01. 분석시간 변경예정)

JEM-2010(TEM-3), NEOARM(TEM-1)장비 분석예약안내는 추후 공지예정입니다.

4. TEM EDS분석 불가

JEM-2100F(TEM-2)의 EDSdetector 수리로 인해 성분분석이 불가능합니다.

수리완료 후 공지하겠습니다.

5. TEM 분석료 변경

TEM분석료
장비명	구분	단위	일반	비고
JEM-2100F (TEM-2)	TEM/STEM	30분	100,000
	EDS	시료	80,000
	EELS	시료	300,000	EELS현행유지
JEM-2010 (TEM-3)	TEM	30분	40,000	자율사용 현행유지
외부교육기관,가족회사 25%할인,교내 50%할인 세부 변경사항 공문참고